項目

細則

收費

說明

空氣(qi)下形貌表(biao)征

Air接觸或輕敲模式

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1.如果單個(ge)樣品測試時間超出(chu)30min則按(an)照兩個(ge)樣品計(ji)算；

2.液(ye)相形貌掃描、電化學液(ye)池模塊測(ce)試(shi)的樣(yang)品(pin)，單(dan)個樣(yang)品(pin)測(ce)試(shi)時間超出1小時則(ze)按照兩個樣(yang)品(pin)計算；

3探針被樣品(pin)污(wu)染，按實(shi)際采購探針費加(jia)收探針耗材費用；

4.可以自帶探針

力學(xue)性能測(ce)試

力(li)曲線測試、AM-FM粘彈性成像測試

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電(dian)學性能測(ce)試

導電AFM成像和I/V曲線測試(shi)(shi)。電流測試(shi)(shi)范圍(wei)1pA至(zhi)20nA，電流測試(shi)(shi)精(jing)度(du)1pA

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磁學性(xing)能測試

MFM模塊(kuai)，表征樣品(pin)磁疇分(fen)布

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STM測(ce)試

導電樣品表面高分(fen)辨成像

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納米加(jia)工、刻(ke)蝕

納(na)米(mi)刻(ke)蝕、納(na)米(mi)操縱(zong)、陽極氧化刻(ke)蝕、刮擦(ca)刻(ke)蝕

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壓電力模塊(kuai)測試

材料表面壓(ya)(ya)電(dian)疇(chou)分布，可以提供150V電(dian)壓(ya)(ya)

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液相形(xing)貌(mao)測(ce)試

只接受(shou)水相(xiang)、無毒有(you)機(ji)相(xiang)溶液測試(shi)，具有(you)腐蝕性(xing)的有(you)機(ji)溶劑另議

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電化(hua)學液池模塊測試(shi)

觀察(cha)金屬及其他(ta)材料的(de)電化學沉積、氧化及腐(fu)蝕過程，需要(yao)與電化學工(gong)作戰聯用

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