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  • 高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
    高分辨薄膜X射線衍射儀檢測

    原(yuan)位(wei)高低溫(wen)附件可以在材(cai)料(liao)合(he)成過程中來觀(guan)察材(cai)料(liao)結構變(bian)(bian)(bian)(bian)化(hua),探索材(cai)料(liao)合(he)成條件;也可以用來探測充(chong)放電(dian)(dian)到某個(ge)電(dian)(dian)位(wei)下材(cai)料(liao)隨溫(wen)度變(bian)(bian)(bian)(bian)換而產(chan)生(sheng)的(de)相應(ying)的(de)結構變(bian)(bian)(bian)(bian)化(hua),這(zhe)對(dui)探討實際電(dian)(dian)池安全性產(chan)生(sheng)的(de)原(yuan)因之一(yi),即材(cai)料(liao)結構變(bian)(bian)(bian)(bian)化(hua)引起(qi)的(de)安全問(wen)題是一(yi)種重要的(de)手段; 科研支撐、變(bian)(bian)(bian)(bian)溫(wen)物(wu)相分析、變(bian)(bian)(bian)(bian)溫(wen)過程中的(de)晶粒尺寸(cun)、晶型、晶胞參數及動力(li)學(xue)分析;分析、電(dian)(dian)池充(chong)放電(dian)(dian)物(wu)相分析、原(yuan)位(wei)電(dian)(dian)化(hua)學(xue)反應(ying)物(wu)相分析。高分辨薄膜 X 射(she)線衍射(she)儀(yi)檢測

    時間:2024-03-04型號:
  • 原位X射線衍射儀檢測
    原位X射線衍射儀檢測

    原(yuan)位高(gao)低溫附(fu)件(jian)可以在材(cai)(cai)料(liao)合(he)成過程中(zhong)來(lai)觀察(cha)材(cai)(cai)料(liao)結構變(bian)(bian)(bian)化(hua)(hua),探(tan)索材(cai)(cai)料(liao)合(he)成條件(jian);也可以用來(lai)探(tan)測充放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)到某(mou)個電(dian)(dian)(dian)(dian)位下材(cai)(cai)料(liao)隨溫度(du)變(bian)(bian)(bian)換而產生(sheng)(sheng)的相(xiang)應的結構變(bian)(bian)(bian)化(hua)(hua),這對探(tan)討實(shi)際電(dian)(dian)(dian)(dian)池安全(quan)性產生(sheng)(sheng)的原(yuan)因之一,即材(cai)(cai)料(liao)結構變(bian)(bian)(bian)化(hua)(hua)引(yin)起的安全(quan)問題(ti)是(shi)一種重要的手段(duan);科研支撐、變(bian)(bian)(bian)溫物(wu)(wu)相(xiang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)、變(bian)(bian)(bian)溫過程中(zhong)的晶(jing)(jing)粒尺寸(cun)、晶(jing)(jing)型(xing)、晶(jing)(jing)胞參數及動力學(xue)分(fen)(fen)析(xi)(xi);電(dian)(dian)(dian)(dian)池充放(fang)電(dian)(dian)(dian)(dian)物(wu)(wu)相(xiang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)、原(yuan)位電(dian)(dian)(dian)(dian)化(hua)(hua)學(xue)反應物(wu)(wu)相(xiang)分(fen)(fen)析(xi)(xi)。原(yuan)位X射線衍射儀檢測

    時間:2024-03-04型號:
  • 雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測
    雙微焦斑單晶X射線衍射儀檢測

    布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射(she)線衍射(she)儀,采(cai)用創造性的達芬奇設(she)(she)計,通過TWIN-TWIN光路設(she)(she)計,成(cheng)功實現了BB聚焦幾何下(xia)的定性定量分析(xi)和平行(xing)光幾何下(xia)的薄膜掠入射(she)GID分析(xi)、薄膜反射(she)率XRR分析(xi)的全自動切換,而無需(xu)對光。通過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行(xing)雙微焦斑單晶X射(she)線衍射(she)儀檢測。

    時間:2024-03-04型號:
  • 多晶X射線衍射儀檢測
    多晶X射線衍射儀檢測

    布魯克AXS公司全(quan)新(xin)的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采(cai)用創造性的達芬奇(qi)設(she)計,通(tong)過TWIN-TWIN光(guang)路設(she)計,成(cheng)功實現了(le)BB聚焦幾(ji)何下(xia)的定性定量(liang)分(fen)析和平行光(guang)幾(ji)何下(xia)的薄膜掠(lve)入射GID分(fen)析、薄膜反射率XRR分(fen)析的全(quan)自動(dong)切換,而無需(xu)對光(guang)。通(tong)過TWIST TUBE技術,使用戶可以進行多晶X射線衍射儀檢(jian)測。

    時間:2024-03-04型號:
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