高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
項目(mu) | 細則 | 收費 | 說明 |
Rocking Curve | 單一圖譜，30min 以內；若超 過 30min，延(yan)長時間(jian)按(an)(an)240元 /30min計(ji)，不(bu)足30min 按(an)(an) 30min計(ji)； 薄膜(mo)帶襯底(di)材(cai)料的薄膜(mo)或帶 基材(cai)的鍍層等(deng)原始形(xing)狀，厚 度≤1mm，直(zhi)徑≤2cm | 240元/樣(yang) | 1.長(chang)時間數據手機（大于(yu)5h）、復雜樣(yang)品(pin)等特殊測試，價格需面議(yi)； 2.原位測(ce)試需提供測(ce)試方法 |
2Theta/Omega Scan | 對稱掃(sao)(sao)描單一圖(tu)譜，30min 以 內；掃(sao)(sao)描時間(jian)大于(yu) 30min，延 長(chang)時間(jian)按(an)240元/30min，不足 30min 按(an) 30min 計 | 240元/樣 | |
2Theta/Omega Scan | 不(bu)對稱掃描單一圖譜，30min 以內(nei)；掃描時(shi)間(jian)大于 30min， 延長(chang)時(shi)間(jian)按 240元/30min計，不(bu)足(zu) 30min 按 30min 計 | 300元/樣 | |
Skew Scan | 不對(dui)稱掃描單一圖譜，30min 以內；掃描時(shi)間(jian)大(da)于 30min， 延長時(shi)間(jian)按 240 元/30min計(ji)，不足(zu) 30min 按 30min 計(ji) | 300元/樣 | |
XRR | 單一圖譜，30min 以內；掃描 時(shi)間大于 30min，延長時(shi)間按(an)240 元 /30min計，不足30min 按(an) 30min 計 | 300元(yuan)/樣 | |
GID | 單(dan)一(yi)圖譜，30min 以內；掃描 時間(jian)大于 30min，延長時間(jian)按240 元 /30min計(ji)，不(bu)足30min 按 30min 計(ji) | 300元(yuan)/樣 | |
Phi Scan | Phi 掃描單一(yi)圖譜，30min 以 內；掃描時(shi)間大(da)于30min，延長時(shi)間按(an) 240元/30min計(ji)，不(bu)足(zu) 30min 按(an) 30min 計(ji) | 300元(yuan)/樣 | |
RSM | 單(dan)點倒易空(kong)間 mapping 單(dan)一圖譜(pu)，30min 以內；掃(sao)描時間 大(da)于(yu) 30min，延(yan)長(chang)時間按240元/30min計，不足30min 按 30min 計 | 400元/樣 | |
低溫測試 | 包(bao)含 2 個溫度(du)點，第二點后， 240 元/ 測試點；低溫測試液氮另加30元/時 | 900元/樣 |
高分辨薄膜X射線衍射儀檢測
儀器功能特點：
1- 高效的6KW TXS-HE轉靶光源，強度是(shi)封閉靶的5倍；
2- 入(ru)射光(guang)(guang)路(lu)三光(guang)(guang)路(lu)自動切換系統：粉末衍(yan)射聚(ju)焦光(guang)(guang)路(lu)、薄膜反射、掠入(ru)射平行光(guang)(guang)路(lu)；高分(fen)(fen)辨光(guang)(guang)路(lu)：高分(fen)(fen)辨毛(mao)細管透射、反射、外延(yan)薄膜高分(fen)(fen)辨；
3- 探測(ce)器(qi)的開口大，適合(he)測(ce)試速度快原(yuan)(yuan)位；配置準直(zhi)器(qi)后(hou)開展二維衍射實時分析(xi)，還原(yuan)(yuan)原(yuan)(yuan)位二維信息；配備(bei)的高低溫系統可實時檢測(ce)反應中結(jie)構的演(yan)變(bian)過程；
4- 原(yuan)位充放電(dian)、原(yuan)位電(dian)化學附件更是快速準確(que)地追(zhui)溯揭(jie)示(shi)了phase transformation過(guo)程(cheng)。
應用范圍：
原位(wei)高低溫(wen)附件可以在材(cai)料(liao)合(he)成過程(cheng)中來(lai)觀察材(cai)料(liao)結(jie)構變化，探(tan)索(suo)材(cai)料(liao)合(he)成條件；也可以用來(lai)探(tan)測充(chong)放電(dian)到某個電(dian)位(wei)下(xia)材(cai)料(liao)隨溫(wen)度(du)變換而(er)產(chan)(chan)生的(de)相應的(de)結(jie)構變化，這對探(tan)討實際電(dian)池安(an)全性產(chan)(chan)生的(de)原因之一(yi)，即材(cai)料(liao)結(jie)構變化引(yin)起的(de)安(an)全問題(ti)是一(yi)種重要的(de)手(shou)段；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的(de)晶(jing)粒尺寸、晶(jing)型、晶(jing)胞參數及(ji)動力學分析
分(fen)析(xi)、電池充放電物(wu)(wu)相分(fen)析(xi)、原位電化學反(fan)應物(wu)(wu)相分(fen)析(xi)。
產業支撐
藥物作用(yong)機理及動力學分析、藥物理化(hua)性(xing)質及穩定性(xing)分析。
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