原位X射線衍射儀檢測
項目 | 細則 | 收費 | 說明(ming) |
2Theta/Omega、 XRR、GID | 薄膜樣品：每樣品測試(shi)不超 過 30 min；掃描(miao)時間大于 30min，延長時間按240 元/30min收費，不足30min 按 30min 計 | / | 1.長時間數據手機（大(da)于5h）、復雜樣品等(deng)特殊測試，價格(ge)需面議(yi)； 2.原位(wei)測試(shi)需提(ti)供測試(shi)方法 |
高(gao)溫測(ce)試(shi) | 室溫至 1100℃，包含(han) 2 個溫 度點，第二點后， 240元/測 試(shi)點 (校(xiao)外 240 元/測試(shi)點) | / | |
中低溫測(ce)試 | -180 至 450℃，多(duo)溫(wen)度(du)點(dian)測(ce)試(shi)(shi) 時第三(san)個溫(wen)度(du)起，以 240 元/ 測(ce)試(shi)(shi)點(dian)計(ji)，低溫(wen)測(ce)試(shi)(shi)液氮另加(jia) 30 元/時 | / | |
低溫測試 | 溫度起點低于-180℃，低至 12K，多溫度點測試時第三個 溫度起，以 240元/測試點計 | / | |
電池(chi)充(chong)放電測試(shi) | 變(bian)溫范圍：-25℃~+80℃， Peltier 變(bian)溫，包含 2 個測試(shi) 點，第二點后， 240 元/測試(shi)點 | / | |
原位電化學測試 | 包含(han) 2 個測(ce)試點，第(di)二(er)測(ce)試點 以后， 240 元/測(ce)試點 | / |
原位X射線衍射儀檢測.
儀器功能特點：
1- 高效的6KW TXS-HE轉靶(ba)光源，強度是封(feng)閉靶(ba)的5倍；
2- 入射光路三光路自動(dong)切換(huan)系統：粉末衍射聚焦光路、薄(bo)膜反射、掠入射平行(xing)光路；高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨(bian)光路：高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨(bian)毛細管透射、反射、外延薄(bo)膜高(gao)(gao)分(fen)(fen)辨(bian)；
3- 探測器的開口大(da)，適合(he)測試速度快原(yuan)位；配置準直(zhi)器后開展二(er)維(wei)衍射實(shi)時分析，還原(yuan)原(yuan)位二(er)維(wei)信息；配備的高(gao)低(di)溫系統可實(shi)時檢測反應(ying)中結構的演變過程；
4- 原位(wei)充(chong)放電(dian)、原位(wei)電(dian)化學附件更是快(kuai)速準(zhun)確地追溯揭示了(le)phase transformation過程。
應用范圍：
原(yuan)位高低溫附件(jian)可(ke)以在材料(liao)(liao)合(he)(he)成過程中來觀察材料(liao)(liao)結構變(bian)(bian)化(hua)，探(tan)索材料(liao)(liao)合(he)(he)成條件(jian)；也(ye)可(ke)以用來探(tan)測充放(fang)電到某個電位下材料(liao)(liao)隨溫度變(bian)(bian)換而(er)產(chan)(chan)生的相應(ying)的結構變(bian)(bian)化(hua)，這對(dui)探(tan)討(tao)實際電池安全(quan)性產(chan)(chan)生的原(yuan)因之一(yi)，即材料(liao)(liao)結構變(bian)(bian)化(hua)引起的安全(quan)問題是一(yi)種(zhong)重要(yao)的手段(duan)；
科研支撐
變溫物相分析
變溫過程中的晶(jing)粒(li)尺寸(cun)、晶(jing)型、晶(jing)胞參數(shu)及動力(li)學分析
分析、電(dian)池充放電(dian)物(wu)相(xiang)(xiang)分析、原位(wei)電(dian)化學反應物(wu)相(xiang)(xiang)分析。
產業支撐
藥物作用機理(li)(li)及(ji)動力(li)學(xue)分(fen)析、藥物理(li)(li)化性(xing)質及(ji)穩定性(xing)分(fen)析。
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