多晶X射線衍射儀檢測
項目(mu) | 細(xi)則(ze) | 收費 | 說明 |
單掃一(yi)張圖譜 | 看d值，相對強度，不包括物相分(fen)析；每(mei)樣(yang)每(mei)次(ci)長(chang)15min，延(yan)長(chang)時(shi)間按100元(yuan)15min計，不足15min按15min計 | / | 1.長時間數據手機（大于5h）、復雜(za)樣品等特(te)殊測試，價格需(xu)面(mian)議 |
晶胞參(can)數測定(ding) | 已(yi)知的純物相，掃描(miao)時間(jian)≤30min；掃描(miao)時間(jian)超過30min，延長時間(jian)按200元/30min計，不(bu)足(zu)30min按30min計 | / | |
晶粒尺寸測定 | 已知的純(chun)物相，掃(sao)(sao)描(miao)時間≤30min；掃(sao)(sao)描(miao)時間超過(guo)30min，延(yan)長時間按200元/30min計，不足30min按30min計 | / | |
高(gao)分(fen)子結(jie)晶度測(ce)試 | 已(yi)知(zhi)的確(que)定物相(xiang)，掃描(miao)時間(jian)≤1h；掃描(miao)時間(jian)超(chao)過1h，延長(chang)時間(jian)按200元/30min計(ji)，不足30min按30min計(ji) | / | |
階梯掃描法 | / | / | |
物相半定(ding)量 | 僅限于兩種已(yi)知物相(xiang)，掃(sao)描(miao)(miao)時(shi)間≤1h；掃(sao)描(miao)(miao)時(shi)間大于1h，延長時(shi)間按(an)200元(yuan)/30min計，不足30min按(an)30min計；多出物相(xiang)，另加100元(yuan)/相(xiang) | / |
多晶X射線衍射儀檢測
布(bu)魯克AXS公司(si)全新的(de)(de)(de)D8 ADVANCE X射(she)線(xian)衍(yan)射(she)儀，采用創造性的(de)(de)(de)達芬(fen)奇設計，通過TWIN-TWIN光路(lu)設計，成(cheng)功(gong)實(shi)現了BB聚焦幾何(he)下的(de)(de)(de)定性定量分(fen)析(xi)(xi)和平行光幾何(he)下的(de)(de)(de)薄膜掠入射(she)GID分(fen)析(xi)(xi)、薄膜反射(she)率XRR分(fen)析(xi)(xi)的(de)(de)(de)全自(zi)動切換，而無需(xu)對(dui)光。通過TWIST TUBE技(ji)術，使用戶可以(yi)在1分(fen)鐘內完成(cheng)從線(xian)光源(yuan)應用（常(chang)規粉(fen)末的(de)(de)(de)定性定量分(fen)析(xi)(xi)、薄膜的(de)(de)(de)GID、XRR）到點光源(yuan)應用（織構、應力、微區）的(de)(de)(de)切換，讓煩人的(de)(de)(de)光路(lu)互(hu)換、重(zhong)新對(dui)光等問題(ti)從此成(cheng)為(wei)歷(li)史！
高精度(du)的(de)(de)測角(jiao)儀可以保證在全譜范(fan)圍內的(de)(de)每一個衍射峰（注(zhu)意不是一個衍射峰）的(de)(de)測量峰位和標準峰位的(de)(de)誤(wu)差不超過0.01度(du)，布魯克AXS公司向大家提供保證！
先進的林克(ke)斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備(bei)的使(shi)用效率， 而且大幅提高了設備(bei)的探測靈敏度。
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