X射線(xian)三(san)(san)維(wei)顯微鏡(高分辨(bian)率(lv)CT),利(li)用x射線(xian)*的穿透能力,可(ke)以(yi)在不破壞樣(yang)品的情況(kuang)下(xia),獲得高精度三(san)(san)維(wei)圖像,顯示樣(yang)品內部詳(xiang)盡的三(san)(san)維(wei)信息(xi),并進行結(jie)構、密度的定量(liang)分析。該(gai)技(ji)術(shu)可(ke)謂當前三(san)(san)維(wei)成像技(ji)術(shu)中非常有效(xiao)、非常可(ke)靠的手(shou)段,通過高分辨(bian)率(lv)x射線(xian)三(san)(san)維(wei)成像系統,還可(ke)以(yi)獲得樣(yang)品微觀結(jie)構的數字化模(mo)型,可(ke)用于(yu)后續(xu)相關的數值(zhi)模(mo)擬等研究工作。
三維(wei)重構成像x射線顯微(wei)鏡(高分(fen)辨(bian)率CT),即Micro /Nano CT (Computed Tomography)——計算機斷層掃描,其原理與臨床CT/工業CT相同,Micro/Nano 表明其分(fen)辨(bian)率可達到微(wei)米/亞微(wei)米級別。
3D納米(mi)x射線(xian)顯(xian)微鏡ct(高分(fen)辨率(lv)ct)Skyscan2214是一款用于顯(xian)微樣(yang)(yang)品三(san)維成像(xiang)的(de)實驗室級超高分(fen)辨率(lv)CT掃描(miao)儀,可對(dui)直(zhi)徑(jing)為30cm,長度40cm樣(yang)(yang)品的(de)內(nei)部(bu)結構進行3D無損檢(jian)測與重(zhong)建(jian),對(dui)樣(yang)(yang)品的(de)細節檢(jian)測能力(li)(標(biao)稱分(fen)辨率(lv))可達(da)60納米(mi)。利(li)用 X 射線(xian)無損成像(xiang)的(de)特性(xing)提供(gong)樣(yang)(yang)品內(nei)部(bu)結構的(de)三(san)維圖像(xiang),并且無需對(dui)相關區域(yu)進行切(qie)割或切(qie)片。
掃一(yi)掃 微信咨詢
©2024 束蘊儀器(上海)有限公司版權所有 備案號: 技術支持: 網站地圖 總訪問量(liang):100487