少子(zi)壽命測試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅(gui)錠(ding)、硅(gui)磚和硅(gui)晶圓片的(de)生產和質量監(jian)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽能電池(chi)、鈣鈦礦(kuang)等(deng)中的(de)硅(gui)材(cai)料(liao)。
聯系QQ：27228489
聯系郵箱：wei.zhu@shuyunsh.com
傳真：86-021-34685181
聯系地址：上海市松江區千帆路288弄G60科創云廊3號樓602室
掃一(yi)掃 微信咨(zi)詢
©2024 束蘊儀器（上海）有限公司版權所有 備案號： 技術支持： 網站地圖 總(zong)訪問(wen)量(liang)：100487
