場發射掃描電鏡SEM檢測

更新時間： 2024-03-04
產品型號：
簡單描述
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM系列，具有出色的分辨率，能夠輕松實現亞納米分辨成像以及高探測效率，適用于包括磁性材料的多種材料的高分辨成像與分析。無論是在高真空還是在可變真空壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，可獲取各類樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像。場發射掃描電鏡SEM檢測

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詳細(xi)介紹

發射掃描電鏡SEM相關檢測

項目	細則	收費	說明
僅形貌觀察	每(mei)個樣(yang)品*20min，超(chao)出時間將按照每(mei)20min一個樣(yang)計算；樣(yang)限(xian)取(qu)5張照片(pian)/樣(yang)	/	/
僅元(yuan)素分(fen)析測(ce)試(shi)	EDS元素分(fen)析/分(fen)布包括：點分(fen)析（限3點）；線分(fen)析；面分(fen)析	/	/
形貌觀察和元素分析	SEM每(mei)個樣品限取5張照片； EDS元素分析/分布包括；點分析（限3點）；線分析(xi)；面分析(xi)；	/	/
EBSD	/	/	制樣收費面議
STEM	/	/	/
冷臺(tai)、熱臺(tai)、WetSTEM原位觀(guan)察	需(xu)要設(she)計試驗方案，價格面(mian)議。	/	/
鍍(du)金	鍍層為Au 5nm	/	/
鍍(du)鉑	鍍層(ceng)為Pt 5nm	/	/

發射掃描電鏡SEM相關檢測

蔡司場發射掃描電子顯微鏡Sigma系列，采用蔡司Gemini鏡筒，具有高(gao)品質(zhi)的成像和優質(zhi)的分析(xi)能(neng)力，可選(xuan)配備多種探測器(qi)，以滿足顆粒物、納(na)米結構、薄(bo)膜樣(yang)品等各(ge)種不(bu)同(tong)的應用需求。EDS幾何設計可實(shi)現高(gao)性能(neng)的元素分析(xi)，無論哪(na)種樣(yang)品適(shi)用范圍廣，且均可獲得準確(que)且可重(zhong)復的分析(xi)結果。

[ 產品特點 ]1. 靈(ling)活的探測手段獲(huo)取高分(fen)(fen)辨的圖像(xiang)2. 智能(neng)高效的工作流程3. 高性能(neng)的分(fen)(fen)析系統4. 可擴展拉曼光譜(pu)成像(xiang)5. *的Gemini鏡筒設計-提(ti)升光學性能(neng)的同時(shi)，降低(di)靜電場(chang)與磁(ci)場(chang)對樣品的影響

日立掃描電鏡

該分析用掃描電子顯微鏡適合用于研究(jiu)大件，較(jiao)重(zhong)，較(jiao)高(gao)的樣品。

▲樣品直(zhi)徑達(da)300mm。▲可(ke)觀(guan)察范圍直(zhi)徑達(da)203mm。▲可(ke)對高達(da)110mm的樣品進行(xing)觀(guan)察和能譜分析。▲通用型接(jie)口布局滿足各種分析用途。