弗萊貝格PIDcon bifacial｜雙面電池的可逆與不可逆PID快速測試解決方案

論文來源：K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

部分摘要：

      雙面(mian) PERC 電(dian)池背面(mian)PID會導致嚴重的功(gong)率(lv)損(sun)失(shi)。與單面(mian) PERC 太(tai)陽能電(dian)池相比(bi)，可(ke)以(yi)發生可(ke)逆的去極化相關電(dian)位誘導衰退（PID-p）和(he)不可(ke)逆的腐(fu)蝕電(dian)位誘導衰退（PID-c）。研究(jiu)表明，一個可(ke)靠的評估太(tai)陽能電(dian)池功(gong)率(lv)損(sun)失(shi)的方法需(xu)(xu)要(yao)一種(zhong)改進的 PID 測(ce)(ce)試方法，需(xu)(xu)要(yao)在高壓測(ce)(ce)試上附加(jia)光照。此外(wai)，還需(xu)(xu)要(yao)在測(ce)(ce)試方案(an)中(zhong)加(jia)入恢(hui)復步(bu)(bu)驟來將可(ke)逆 PID-p 與不可(ke)逆 PID-c 造成損(sun)傷的區分開(kai)來。退化程度和(he) PID-p 和(he) PIC-c 的貢獻敏(min)感地(di)依賴于所(suo)研究(jiu)的太(tai)陽能電(dian)池。因(yin)此，在雙面(mian) PERC 電(dian)池的 PID 測(ce)(ce)試方案(an)中(zhong)需(xu)(xu)包(bao)括 PID 高壓期間的附加(jia)光照和(he)恢(hui)復步(bu)(bu)驟。

相對于每個單獨模塊的初始狀態，背面Isc 值的變化情況

       比較 1 個太陽和0.1 個太陽的 I–V 測量(liang)，可(ke)以觀察(cha)到(dao)，這兩(liang)種方法(fa)之間有很強的數量(liang)相(xiang)關(guan)性。觀察(cha)到(dao)的參數變(bian)化與(yu)用于 I–V 測量(liang)的光照強度無關(guan)。

      采用(yong) 0.1 太陽光源的(de)(de)測試裝置可(ke)(ke)同樣適用(yong)于 PID 階(jie)段(duan)和表征階(jie)段(duan)。A （優化電池(chi)）模塊和 S（標準電池(chi)） 模塊之間的(de)(de)另一個明顯區(qu)別是(shi)恢(hui)復(fu)行為(wei)。對于 A 模塊，Isc 值在恢(hui)復(fu)步驟中幾(ji)乎恢(hui)復(fu)（上圖右中的(de)(de)黑色(se)和紅色(se)條）。這意味(wei)著，所(suo)觀察到(dao)的(de)(de) A 模塊背(bei)面的(de)(de)衰退大部分是(shi)可(ke)(ke)逆(ni)(ni)的(de)(de)，因此與PID-p 有關(guan)。與此相(xiang)反，S 模塊在恢(hui)復(fu)階(jie)段(duan)只顯示很小的(de)(de) Isc 參數的(de)(de)變化。因此，在這種情況(kuang)下，PID 幾(ji)乎是(shi)不可(ke)(ke)逆(ni)(ni)的(de)(de)，與 PID-c 有關(guan)。

      綜(zong)上所述，電位誘(you)導衰退（PID）對雙面(mian)太陽能電池的(de)背面(mian)有(you)很大的(de)影響。有(you)兩種(zhong)不(bu)(bu)(bu)同的(de)PID 機制， 可(ke)逆極化相關 PID-p 和不(bu)(bu)(bu)可(ke)逆腐蝕相關 PID-c。一個PID測(ce)試與4小時總測(ce)試時間適合于評(ping)估微型模塊的(de)背面(mian)PID靈敏度(du)以(yi)及區分可(ke)逆PID- p 和不(bu)(bu)(bu)可(ke)逆 PID-c。

      PID 測(ce)(ce)試流程需要(yao)滿(man)足兩個條件：首先，測(ce)(ce)試過(guo)程同(tong)時(shi)需要(yao)實施光(guang)(guang)照，以(yi)防止 PID 結果的(de)過(guo)高(gao)或(huo)過(guo)低估計。第(di)二，需要(yao)一個恢復(fu)步(bu)驟來(lai)區分 PID-c 和 PID-p。雖然 PID-p 敏感單元可以(yi)通過(guo)在光(guang)(guang)伏電(dian)(dian)站施加反(fan)向電(dian)(dian)壓來(lai)恢復(fu)，對(dui) PID-c 敏感的(de)太陽能電(dian)(dian)池將遭受永遠(yuan)不(bu)可逆的(de)功率損失。因此，我們(men)需要(yao)一種能夠測(ce)(ce)試雙面電(dian)(dian)池PID的(de)相(xiang)應(ying)設備，結合所需的(de)高(gao)壓測(ce)(ce)試條件和原(yuan)位(wei) PID 的(de)跟蹤技(ji)術，滿(man)足以(yi)上各(ge)種實驗(yan)條件的(de)需求。

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K. Sporleder et al., Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells

//www.sciencedirect。。ｃｏｍ/science/article/abs/pii/S0927024820303548?via=ihub

弗(fu)萊(lai)貝格(ge)儀器與(yu)德國Fraunhofer CSP公(gong)司合作開發了一種(zhong)可(ke)作為(wei)商業(ye)應用的臺式(shi)太(tai)陽(yang)能電池和微型模塊的電勢誘導衰退控(kong)制的測(ce)量(liang)解決方案（PIDcon bifacial）。

臺式雙(shuang)面(mian)電池PID測試(shi)儀：

●   根據IEC 62804-TS標準方法
●   易于使用的臺式設備
●   夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊
●   無需氣候室
●   不需要電池層壓
●   測量速度：4小時(一般)
●   可測量參數：分流電阻、功率損失、電導率、泄漏電流、濕度和溫度
●   太陽能電池可以通過EL等進行研究
●   基于IP的系統支持在世界任何地方進行遠程操作和技術支持