德國弗萊貝格-生產監控|電池片PID測試儀PIDcon bifacial

根據IEC 62804標準

PIDcon的測量設(she)置	PIDcon測量的典型(xing)結(jie)果

       電勢誘導退化（PID）是(shi)光伏電站的(de)(de)(de)一個嚴重(zhong)的(de)(de)(de)可靠性(xing)問(wen)題。因此，調查(cha)其產(chan)(chan)品(pin)的(de)(de)(de)PID敏感性(xing)是(shi)很重(zhong)要(yao)的(de)(de)(de)。PIDcon的(de)(de)(de)目(mu)的(de)(de)(de)是(shi)使生(sheng)產(chan)(chan)商(shang)能夠在(zai)生(sheng)產(chan)(chan)鏈中(zhong)盡早地測試他(ta)們的(de)(de)(de)產(chan)(chan)品(pin)，并調查(cha)封裝材料。

       PIDcon允(yun)許對(dui)(dui)標準生產單(dan)元進行常規(gui)質量控制，測(ce)試(shi)新工藝、材料或層的(de)變(bian)化，并對(dui)(dui)各種模塊步(bu)驟進行鑒定(ding)。請(qing)注意，這里考(kao)慮的(de)PID是由于高(gao)電(dian)壓應力(li)引起的(de)漏(lou)電(dian)電(dian)流（PID-s）導致(zhi)的(de)太陽能電(dian)池(chi)的(de)分流。

      PIDcon的結構實際(ji)上與IEC標準(zhun)相同（圖1）。樣品(pin)堆（太陽(yang)能電池(chi)、EVA箔和(he)玻璃）是模仿太陽(yang)能模塊的。通過這種測試(shi)(shi)方法，可(ke)以測試(shi)(shi)太陽(yang)能電池(chi)和(he)封裝材料。圖2顯示(shi)了一個典型的PIDcon對容易(yi)發生PID的太陽(yang)能電池(chi)的測量。

       與傳統(tong)的(de)模塊PID測試相比，PIDcon具有以下優勢：

               ●   不需要氣(qi)候(hou)室

         ;     ●   在生產鏈的早期進行測量

              ●   設計用于研究工作以及常規生產質量控制

              ●   測試時間短，通常在4到8小時之間

              ●   測量和記錄分流電阻并推算出估計的功率損失