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X射(she)(she)線(xian)衍(yan)(yan)(yan)(yan)射(she)(she)儀是材(cai)料學相關領域基礎且不能(neng)缺少的(de)(de)分(fen)析手段，具備無(wu)損、樣(yang)品(pin)制(zhi)備簡單等優勢。X射(she)(she)線(xian)衍(yan)(yan)(yan)(yan)射(she)(she)儀一般主要由(you)X射(she)(she)線(xian)光(guang)源部分(fen)、測角儀、樣(yang)品(pin)臺、光(guang)路系統、探(tan)測器五大部分(fen)組(zu)成。Bruke結(jie)合具備優異性能(neng)的(de)(de)LYNXEYE系列能(neng)量色散陣(zhen)列探(tan)測器的(de)(de)優勢，在桌(zhuo)面衍(yan)(yan)(yan)(yan)射(she)(she)儀這(zhe)個平(ping)臺上大膽的(de)(de)嘗試了新的(de)(de)結(jie)構和運動邏輯，強勢推出(chu)了一款(kuan)跨界的(de)(de)多功能(neng)桌(zhuo)面式(shi)（臺式(shi)）衍(yan)(yan)(yan)(yan)射(she)(she)系統D6 Phaser

三(san)維X射線(xian)顯微(wei)鏡(jing) （XRM）SKYSCAN 2214 CMOS版是Bruker新推出的一(yi)代(dai)全新納米級(ji)三(san)維X射線(xian)顯微(wei)鏡(jing)（XRM），除了保留上一(yi)代(dai)SKYSCAN2214 ＜500nm的真正三(san)維空(kong)間分辨率和多(duo)探(tan)(tan)測器配置（不超過4個）等先進(jin)性能外，該設備在X射線(xian)源(yuan)功率和探(tan)(tan)測器類(lei)型方(fang)面進(jin)行(xing)了多(duo)方(fang)面升級(ji)，以確保用戶能夠(gou)獲得更大的成像視野和更明亮(liang)的圖像數據(ju)。

1） 6KW高強度(du)(du)(du)Cu轉(zhuan)靶光源2） 垂(chui)直(zhi)q/qATLAS測(ce)角儀Ultra compact design3） Eiger2 R 500k二維(wei)探測(ce)器4） 液(ye)氦(hai)低溫(wen)系(xi)統PheniX cryostat：12K~300K5） 液(ye)氮低溫(wen)系(xi)統：MTC-LOWTEMP液(ye)氮溫(wen)度(du)(du)(du)到450度(du)(du)(du)6） 環境加熱高溫(wen)：MTC-FURNACE室(shi)溫(wen)-1100度(du)(du)(du)；X射線衍(yan)射儀高分辨透射及PDF散(san)射系(xi)統檢(jian)測(ce)

原(yuan)(yuan)位(wei)高(gao)(gao)低溫(wen)(wen)附件可以(yi)在材(cai)(cai)料合成過程中來觀察材(cai)(cai)料結(jie)構(gou)變(bian)化，探索材(cai)(cai)料合成條(tiao)件；也可以(yi)用來探測(ce)充(chong)放電(dian)到(dao)某個電(dian)位(wei)下(xia)材(cai)(cai)料隨(sui)溫(wen)(wen)度變(bian)換而(er)產生的(de)(de)相應的(de)(de)結(jie)構(gou)變(bian)化，這(zhe)對探討實際電(dian)池(chi)安全性產生的(de)(de)原(yuan)(yuan)因之(zhi)一(yi)(yi)，即材(cai)(cai)料結(jie)構(gou)變(bian)化引起(qi)的(de)(de)安全問題是一(yi)(yi)種重(zhong)要的(de)(de)手段(duan)； 科(ke)研支撐、變(bian)溫(wen)(wen)物(wu)相分(fen)(fen)(fen)析(xi)、變(bian)溫(wen)(wen)過程中的(de)(de)晶(jing)(jing)粒尺寸、晶(jing)(jing)型、晶(jing)(jing)胞參數(shu)及動力學(xue)分(fen)(fen)(fen)析(xi)；分(fen)(fen)(fen)析(xi)、電(dian)池(chi)充(chong)放電(dian)物(wu)相分(fen)(fen)(fen)析(xi)、原(yuan)(yuan)位(wei)電(dian)化學(xue)反應物(wu)相分(fen)(fen)(fen)析(xi)。高(gao)(gao)分(fen)(fen)(fen)辨薄膜 X 射線衍射儀(yi)檢測(ce)

原(yuan)位高低溫附件(jian)可(ke)以在(zai)材(cai)料(liao)(liao)合(he)成(cheng)過程中來觀察材(cai)料(liao)(liao)結(jie)(jie)構(gou)變(bian)化(hua)，探索材(cai)料(liao)(liao)合(he)成(cheng)條件(jian)；也可(ke)以用來探測充(chong)放電(dian)到某個電(dian)位下材(cai)料(liao)(liao)隨溫度(du)變(bian)換而產(chan)生(sheng)的(de)(de)相(xiang)應(ying)的(de)(de)結(jie)(jie)構(gou)變(bian)化(hua)，這對(dui)探討(tao)實際電(dian)池(chi)(chi)安全(quan)性(xing)產(chan)生(sheng)的(de)(de)原(yuan)因(yin)之一，即材(cai)料(liao)(liao)結(jie)(jie)構(gou)變(bian)化(hua)引起(qi)的(de)(de)安全(quan)問題是一種重要的(de)(de)手段；科研支撐、變(bian)溫物(wu)相(xiang)分(fen)析、變(bian)溫過程中的(de)(de)晶粒尺寸、晶型、晶胞參(can)數及動力學分(fen)析；電(dian)池(chi)(chi)充(chong)放電(dian)物(wu)相(xiang)分(fen)析、原(yuan)位電(dian)化(hua)學反應(ying)物(wu)相(xiang)分(fen)析。原(yuan)位X射線(xian)衍射儀(yi)檢測

布魯克AXS公司全(quan)新的(de)D8 ADVANCE X射(she)(she)線衍射(she)(she)儀，采用創造性的(de)達(da)芬奇設計，通(tong)過(guo)(guo)TWIN-TWIN光(guang)路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的(de)定性定量分(fen)析(xi)和(he)平行光(guang)幾何下的(de)薄膜掠入射(she)(she)GID分(fen)析(xi)、薄膜反射(she)(she)率XRR分(fen)析(xi)的(de)全(quan)自動切換，而(er)無需(xu)對光(guang)。通(tong)過(guo)(guo)TWIST TUBE技術，使用戶可(ke)以(yi)進行雙微焦斑單晶X射(she)(she)線衍射(she)(she)儀檢(jian)測。

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