?產品介紹

德國弗萊貝格DDCOM（用于晶體定向測量的桌面型X射線衍射儀）主要應用于單晶的*晶格取向的確定，其采用Omega掃描方法對樣品進行超高速晶體定位測量，可以測定立方晶體的任意位置取向，該設備配置了氣冷式X射線管，操作過程無需水冷，適用于科學研究及生產質量控制。

?技術特點(dian)

 --確定單晶的*晶格取(qu)向

 --使用Omega掃描(miao)方法(fa)的超高速晶(jing)體定位測量

 --立方晶體(ti)(ti)任(ren)意未知取(qu)向的測定

 --特別(bie)設計用于(yu)點陣方(fang)向的方(fang)位設置和(he)標記

 --氣冷式x射線管，無需水冷

 --適合于研究和生產質量控(kong)制

所有(you)想要的晶體方向參數在5秒(miao)內一次(ci)旋轉中被捕獲(huo)

?可(ke)測量材料的例子

 --立方(fang)/任(ren)意(yi)未知(zhi)方(fang)向：Si, Ge, GaAs, GaP, InP 

 --立方/特殊(shu)取向：Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

 --正方：MgF2, TiO2, SrLaAlO4

 --六(liu)方/三角：SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英(ying))，Al2O3(藍寶(bao)石)，GaPO4, La3Ga5SiO14

 --斜方晶(jing)系：Mg2SiO4 NdGaO3

 --另可根(gen)據(ju)客戶的要求進一步(bu)選料(liao)

?DDCOM的應用
 

平面方向的標記和測(ce)量

 --在晶圓片的注(zhu)入和光刻過程中(zhong)，需要平面或(huo)凹槽作(zuo)為定位(wei)標記(ji)。切(qie)割過程中，晶(jing)片(pian)必須正確地對準晶(jing)圓片(pian)上易于切割的晶(jing)格面。因此，檢查平面(mian)或(huo)缺(que)口的位置至關重要(yao)。

 --為(wei)了確定平面或缺(que)口的位(wei)置，就需要測量平(ping)面(mian)內(nei)的部件。由于Omega掃(sao)描(miao)法可(ke)以(yi)在一(yi)次測(ce)量(liang)中確定完(wan)整的晶體(ti)(ti)方位，基于此，便可以直接識別在(zai)平面方(fang)向或檢查方(fang)向的(de)單位或缺口。

  --DDCOM（用于晶體定向測量的桌面型X射線衍射儀）通(tong)過旋(xuan)轉(zhuan)轉(zhuan)盤，可以將任何平(ping)面方向(xiang)轉(zhuan)換成用戶的特定位置。在必須定義(yi)平(ping)面方向(xiang)的情況下，這可以大(da)大(da)簡(jian)化將標記應用(yong)到特定平面(mian)方向的(de)過程(cheng)。