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工業部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統

  • 更新時間:  2024-03-04
  • 產品型號:  1275 布魯克Skyscan
  • 簡單描述
  • 工業部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統
    SkyScan 1275高分辨三維X射線顯微成像系統是一款非常適合于快速測定樣品的X射線三維成像系統,在不降低圖像質量的情況下,可以在幾分鐘之內完成一個樣品的掃描。圖形處理技術的革新更進一步提升了圖像重建的質量和速度。通過體繪制可以快速、逼真地重建樣品的三維可視化圖像,*質量的三維圖像揭示了樣品內部的微觀結構
詳細介紹

特點介紹

SkyScan 1275高分辨(bian)三維(wei)X射(she)線(xian)顯(xian)微(wei)成像系統(tong)是一(yi)(yi)款非常適合于快速測(ce)定樣(yang)品(pin)(pin)的(de)X射(she)線(xian)三維(wei)成像系統(tong),在(zai)不降低圖(tu)像質量(liang)的(de)情況下(xia),可(ke)以在(zai)幾分鐘之內(nei)完(wan)成一(yi)(yi)個(ge)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)掃描。圖(tu)形處理技(ji)術的(de)革(ge)新更進(jin)一(yi)(yi)步提升了(le)圖(tu)像重(zhong)建(jian)(jian)的(de)質量(liang)和(he)速度。通過體(ti)(ti)繪制可(ke)以快速、逼真地重(zhong)建(jian)(jian)樣(yang)品(pin)(pin)的(de)三維(wei)可(ke)視(shi)化圖(tu)像,*質量(liang)的(de)三維(wei)圖(tu)像揭示了(le)樣(yang)品(pin)(pin)內(nei)部的(de)微(wei)觀結(jie)構,利用軟件中(zhong)的(de)虛擬切割和(he)虛擬工具可以很好地展現樣品內部的全部細節。

 

 

工業制成品應用(yong)分(fen)享(xiang)

工業部件缺陷高分辨三維X射線顯微成像系統 

 

3D XRM 的(de)分辨(bian)率(lv) 體素尺寸(Voxel Size)
體素尺寸=重構數據集中的體素尺寸
由系統幾何和探測器的物理像素尺寸(間距)決定
至少需要2個體素來識別特征(奈奎斯特采樣定理)

放大倍數= SDD / SOD
體素尺寸= 探測器像素間距/放大倍數

 

實例:
探測器像素間距(detector pitch)= 18 µm
SOD = 10 mm
SDD = 300 mm
體素尺寸= 0.6 µm

 

 

3D XRM 的(de)分(fen)辨率 空間(jian)分(fen)辨率

空間分辨(bian)率 = 成(cheng)像(xiang)系統中能夠識別(bie)的(de)兩個相鄰(lin)特征的(de)小間距

空間分辨率受到這些因素綜合影響
x射線源的焦點尺寸
體素尺寸
襯度(如果材料的平均原子序數相同,你就無法分辨它們)

因此
永遠無法分辨比x射線焦點尺寸小的特征
無法分辨小于體素尺寸的特征(至少2個體素要求)

 

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