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D8 X射線衍射儀 布魯克代理商

  • 更新時間:  2024-03-04
  • 產品型號:  
  • 簡單描述
  • 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。
詳細介(jie)紹

布(bu)魯(lu)克(ke) D8 達芬奇 X射線衍射儀

布魯克D8達(da)芬奇(qi)X射線衍(yan)射儀

型號(hao):D8 Advance

產(chan)地:德(de)國

 

 

布魯克AXS公司全(quan)新的(de)(de)D8 ADVANCE X射(she)線衍射(she)儀(yi),采用(yong)創造性(xing)的(de)(de)達(da)芬奇設計(ji),通(tong)過TWIN-TWIN光(guang)(guang)路設計(ji),成功實現了BB聚焦幾何下的(de)(de)定性(xing)定量分析和平行光(guang)(guang)幾何下的(de)(de)薄膜(mo)掠入射(she)GID分析、薄膜(mo)反射(she)率XRR分析的(de)(de)全(quan)自動(dong)切換,而無(wu)需對光(guang)(guang)。通(tong)過革命性(xing)的(de)(de)TWIST TUBE技術(shu),使用(yong)戶可以在1分鐘內(nei)完成從(cong)線光源應用(常規粉末的(de)(de)定(ding)性定(ding)量分析、薄膜(mo)的(de)(de)GID、XRR)到點光源應用(織(zhi)構、應力、微區)的(de)(de)切換,讓煩人的(de)(de)光路互換、重新對光等(deng)問題(ti)從(cong)此成為(wei)歷史(shi)!

     

高精度的(de)測角儀可以保(bao)證在全譜范圍內的(de)每(mei)一個(ge)(ge)衍射(she)峰(注意不(bu)是一個(ge)(ge)衍射(she)峰)的(de)測量(liang)峰位和標(biao)準峰位的(de)誤(wu)差不超過0.01度,布魯克AXS公司(si)提供保(bao)證!

先進(jin)的林克斯(si)陣列探(tan)測(ce)器可(ke)以提高強度(du)150倍,不僅答復提高設備(bei)的使用效率, 而且大(da)幅提高了設備(bei)的探(tan)測(ce)靈敏度(du)。

 

技術指標:                                          

Theta/theta 立式(shi)測角儀                              

2Theta角度范圍:-110~168°

角度精度:0.0001度                    

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管(guan)                  

探(tan)測(ce)器:林克斯陣(zhen)列探(tan)測(ce)器、林克斯XE陣(zhen)列探(tan)測(ce)器                  

儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg     

                                        

應用(yong)

物相定(ding)性分析

結晶(jing)度及非晶(jing)相含量(liang)分析

結構精修及解析

物相定量分析

點陣參數精確測量(liang)

無標樣定量分析

微觀應(ying)變分析

晶粒尺(chi)寸分析

原位分析

殘余應力

低角度介孔材料測量

織構及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射

 

 

 

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