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原子力激光拉曼光譜儀

  • 更新時間:  2024-03-04
  • 產品型號:  XploRA™Nano
  • 簡單描述
  • 原子力激光拉曼光譜儀是一款高度集成原子力拉曼系統。它不僅提供各種優化性能,而且使用便捷,能快速得到可靠的結果。
詳細(xi)介紹

 

 

原子力激光拉曼光譜儀詳細信息(xi):


  將AFM的納米量級(ji)高空間分(fen)(fen)辨率和拉曼指紋光譜技術耦合(he)起來,實現(xian)高空間分(fen)(fen)辨率下物理特性、化學結構測(ce)試。



產品特點:

 

♦ AFM和拉曼同區域成像(xiang)

♦ 針尖(jian)增強拉曼(TERS)

♦ AFM光杠桿(gan)反(fan)饋激光自動準直

♦ 可(ke)同時提供上方、側向耦合光路,均(jun)可(ke)使用X100高NA物(wu)鏡以提高收集效(xiao)率

♦ 高頻掃(sao)描(miao)頭,對環境噪聲不(bu)敏(min)感


AFM-拉曼耦聯配置 


  HORIBA Scientific拉(la)曼技術可與(yu)掃(sao)描探針顯微(wei)鏡(SPM)進行(xing)耦合(he)(he),構建一個功能強(qiang)大且靈(ling)活(huo)的(de)AFM-拉(la)曼平(ping)臺。研(yan)究人員可根(gen)據期望的(de)AFM-拉(la)曼工作模式來選擇合(he)(he)適的(de)儀器。


  所有具備(bei)激光掃(sao)描(miao)技術的配置都可以(yi)通過對(dui)掃(sao)描(miao)探針上的激光反射進(jin)行快速成像或者根據針尖增強(qiang)拉(la)曼(man)散射信號對(dui)熱點進(jin)行成像,因而該配置能夠準確、可靠地將(jiang)激光定位到(dao)SPM探針針尖上。


  高通(tong)量的光(guang)信(xin)號收集(ji)和(he)檢測硬(ying)件保證在(zai)快速掃描(miao)的同時采集(ji)每一點的SPM信(xin)號和(he)拉曼光(guang)譜。



?  原子力激光拉曼光譜儀和針尖增強拉曼散射(TERS) 

 

將您的所有需求集成到一個強大的系統中

 

  我們所提供的完美解決方案使用(yong)直(zhi)接光(guang)(guang)路(lu)耦(ou)合,對其進行優化以(yi)實現高通量。該平臺可(ke)以(yi)把原子力(li)顯(xian)微鏡(AFM)、近場光(guang)(guang)學技術(SNOM,NSOM)、掃(sao)描隧道顯(xian)微鏡(STM)和共焦(jiao)光(guang)(guang)學光(guang)(guang)譜儀(yi)(拉(la)曼(man)和熒光(guang)(guang)成像(xiang))耦(ou)合到(dao)一(yi)臺多功能的儀(yi)器中,以(yi)實現針(zhen)尖(jian)增強(qiang)拉(la)曼(man)散(san)射(she)(TERS)或共點測量。

 

結合納米成像和化學分析

 

 

單層、雙層和三層石墨烯的共(gong)點AFM和拉曼成像

 

♦  AFM和其他SPM技術可(ke)提供分(fen)子級別分(fen)辨(bian)率下的形貌、力(li)學、熱能、電磁場和(he)近場光學特性。
♦  共(gong)焦拉(la)曼光(guang)譜和(he)成像可提供(gong)納米(mi)材料在亞微米(mi)空(kong)間分辨率(lv)下的詳細化學(xue)信息。
♦  同步測量的*平臺,有(you)助于您獲得可靠(kao)且(qie)位置高度(du)重合的圖像。
♦  結(jie)合高性(xing)能和(he)易用性(xing),HORIBA將會(hui)根據您(nin)所(suo)選擇的SPM制造(zao)商提供一(yi)個可靠、全功能的解決方(fang)案
♦  針尖增強拉曼光譜(pu)(TERS)的光學(xue)、機械和軟(ruan)件(jian)都是經過(guo)優化設(she)計(ji)的,同(tong)時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經驗做(zuo)技(ji)術支(zhi)持,您(nin)可(ke)以自信地使(shi)用這一技(ji)術。

  

一個工具多種(zhong)可能:AFM-拉曼有助于您(nin)提高效率

 

♦  快(kuai)速找(zhao)到納米對(dui)象
 

  由于納(na)米材(cai)料(liao)具(ju)有特殊的(de)化(hua)學屬性,拉曼峰信號較強,因此在光學顯微鏡(jing)下不可見的(de)納(na)米材(cai)料(liao)可以通過超快速拉曼成(cheng)像進行搜索和定(ding)位。在找到樣品(pin)后,我們可以對感興趣(qu)的(de)位置進行形貌、機械、電學和熱能(neng)分析。

 

♦  交(jiao)叉驗證(zheng)您的數據 
   

  拉(la)曼光譜可以證實材料的(de)某(mou)些(xie)特性,例如前面研究(jiu)的(de)石墨烯,AFM形(xing)貌的(de)對(dui)比度(du)較差而難以確定(ding)層厚,拉(la)曼則可以從另(ling)外一(yi)個角度(du)去獲得相同的(de)信息(xi),此(ci)外拉(la)曼還(huan)提供(gong)更(geng)多(duo)有(you)關結構和缺(que)陷的(de)信息(xi),此(ci)信息(xi)只有(you)具備原子分辨率的(de)AFM才能提供(gong)。

 

♦  獲得感興趣納米結構的化學信息


  在表征納米結構時,有時僅獲得物理(li)性質是不(bu)夠的(de)。高(gao)分(fen)(fen)辨的(de)拉(la)曼共焦(jiao)成(cheng)像可提供詳細(xi)的(de)化學成(cheng)分(fen)(fen)信(xin)息,這是其他SPM傳感(gan)器無(wu)法實現的(de)。

 

 

 

探索TERS(針尖增強拉曼散射)領域


  TERS(或納米拉曼)可以綜合兩(liang)種技(ji)術(shu)之優勢(shi):可獲得空間分辨率低至2nm(一般低(di)至10nm)的化學特異性拉(la)曼光譜成像。該(gai)技術可用(yong)于表征從納米管到(dao)DNA等各種樣(yang)品(pin)。  


多種光學配置HORIBAAFM-拉曼平臺支持多種光學方案:

 

 

底部耦聯:針對透(tou)明樣(yang)品

頂部耦聯(lian):針對共點拉曼或傾(qing)斜針尖的TERS

側向(xiang)耦聯:測定不透明樣品的TERS的解決方案

可提供多端口和并排配置

 


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